激光(guang)粒(li)(li)度仪(yi)是基于(yu)衍(yan)(yan)射(she)(she)(she)光(guang)角(jiao)度可以反映颗(ke)(ke)粒(li)(li)大(da)小的(de)(de)(de)光(guang)学原理,通过测(ce)(ce)算衍(yan)(yan)射(she)(she)(she)光(guang)强,从(cong)而反推得到样品粒(li)(li)径分(fen)布的(de)(de)(de)粒(li)(li)度检测(ce)(ce)仪(yi)器(qi)。但随(sui)颗(ke)(ke)粒(li)(li)变小和衍(yan)(yan)射(she)(she)(she)光(guang)角(jiao)度变大(da),从(cong)样品池出(chu)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)散(san)射(she)(she)(she)光(guang)最(zui)大(da)角(jiao)度有限制,超出(chu)一定(ding)范围则不能被探(tan)测(ce)(ce)接收。这部(bu)分(fen)丢失信号就是检测(ce)(ce)盲(mang)区,而延伸检测(ce)(ce)下限(小颗(ke)(ke)粒(li)(li))正(zheng)是粒(li)(li)度仪(yi)行业的(de)(de)(de)主要挑战之一。
光衍射现象(xiang)
常规粒(li)度仪主要采用多(duo)光(guang)束(shu)光(guang)学系(xi)统来解(jie)(jie)决(jue)这一(yi)问题,比如较短(duan)波长的(de)(de)(de)蓝光(guang)的(de)(de)(de)散射(she)角度也(ye)较大(da),分布范围(wei)更广(guang)。然(ran)而,多(duo)光(guang)束(shu)系(xi)统存在多(duo)个光(guang)强基准,不同波长光(guang)束(shu)还会造成折射(she)率偏差,对(dui)测量结(jie)果(guo)有较大(da)的(de)(de)(de)影响。下面(mian)跟随小编在CAC2023广(guang)州国际先(xian)进陶(tao)瓷展(zhan)上,看(kan)看(kan)粉体圈的(de)(de)(de)“老朋友”——丹(dan)东(dong)仪器有限公司(si)有什(shen)么创新的(de)(de)(de)解(jie)(jie)决(jue)方案。
双镜头技术——Bettersize 2000/BT9300系列
据销售部(bu)副经理吴斌先生(sheng)介绍,目前,百特(te)主(zhu)要有Bettersize2000以(yi)及BT9300这两个系列的(de)激(ji)光粒(li)度(du)仪采用了(le)双镜头的(de)技术。这项(xiang)技术能够在单光束状态(tai)下(xia)使前向、侧(ce)向和后向散(san)(san)射(she)光信(xin)号都能被同(tong)时有效(xiao)接收,同(tong)时高精度(du)透镜组保证了(le)即使是很微(wei)弱的(de)散(san)(san)射(she)光信(xin)号都能有效(xiao)地汇聚到探测(ce)器(qi)上。与单镜头激(ji)光粒(li)度(du)仪相(xiang)比,其散(san)(san)射(she)光的(de)探测(ce)量增加了(le)1倍(bei),提(ti)升了(le)细颗粒(li)端(1μm以(yi)下(xia))的(de)测(ce)量精度(du)和分辨率。与双光束激(ji)光粒(li)度(du)仪相(xiang)比,避免了(le)多光束系统的(de)不同(tong)激(ji)光束散(san)(san)射(she)光信(xin)号的(de)连接偏(pian)差,以(yi)及不同(tong)波长光束造成(cheng)的(de)折射(she)率偏(pian)差,提(ti)升了(le)可(ke)靠性,降低了(le)故障率。
BT9300ST系列(lie)(左)及双镜头技术原理图(右)
双(shuang)镜(jing)头(tou)斜(xie)入(ru)射结构(gou)——Bettersize 3000 Plus
Bettersize 3000 Plus是(shi)百特乃(nai)至中国粒(li)度(du)粒(li)形(xing)分(fen)析(xi)(xi)技(ji)术(shu)达到的(de)(de)(de)新高度(du),其(qi)主(zhu)要运用(yong)了以下(xia)几个(ge)技(ji)术(shu)提升测试结(jie)果的(de)(de)(de)准(zhun)(zhun)确性。第(di)一(yi)(yi)(yi)个(ge)是(shi)在双镜头技(ji)术(shu)的(de)(de)(de)基础上(shang)采用(yong)斜入射(she)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)路系(xi)统(tong)(tong),在单光(guang)(guang)束条件下(xia)就能(neng)实现(xian)全(quan)角(jiao)度(du)(0.02-165°)散射(she)光(guang)(guang)信号(hao)的(de)(de)(de)接收,能(neng)更(geng)加准(zhun)(zhun)确地测量纳米(mi)、微米(mi)和毫米(mi)级颗粒(li),技(ji)术(shu)性能(neng)达到了国际先进(jin)水平(ping)。第(di)二(er),Bettersize 3000 Plus是(shi)国内外率(lv)(lv)先将激光(guang)(guang)/图(tu)(tu)像两大系(xi)统(tong)(tong)二(er)合一(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)一(yi)(yi)(yi)款粒(li)度(du)粒(li)形(xing)分(fen)析(xi)(xi)仪,不(bu)仅可(ke)以利(li)用(yong)激光(guang)(guang)系(xi)统(tong)(tong)测颗粒(li)的(de)(de)(de)粒(li)径分(fen)布,还能(neng)利(li)用(yong)其(qi)图(tu)(tu)像系(xi)统(tong)(tong)对(dui)CCD拍(pai)成的(de)(de)(de)每个(ge)颗粒(li)图(tu)(tu)像进(jin)行可(ke)视化(hua)分(fen)析(xi)(xi),包括(kuo)颗粒(li)的(de)(de)(de)粒(li)形(xing)、长径比、径厚(hou)比、最大粒(li)径等,实现(xian)了激光(guang)(guang)、图(tu)(tu)像的(de)(de)(de)同(tong)步(bu)分(fen)析(xi)(xi),相互验(yan)证。第(di)三,对(dui)于一(yi)(yi)(yi)些未知折射(she)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)样(yang)品,Bettersize3000Plus设置了样(yang)品折射(she)率(lv)(lv)测量的(de)(de)(de)功(gong)能(neng),进(jin)一(yi)(yi)(yi)步(bu)保证粒(li)度(du)测试的(de)(de)(de)准(zhun)(zhun)确率(lv)(lv)。
Bettersize3000Plus激光系统(tong)(双镜头斜(xie)入(ru)射(she)光学系统(tong))及图像分析系统(tong)
正(zheng)反傅(fu)里叶结合光学(xue)系(xi)统——Bettersize 2600
而对(dui)于Bettersize 2600系(xi)(xi)(xi)列产(chan)品(pin),吴经理(li)(li)(li)则表示(shi)其(qi)采用(yong)的(de)是(shi)百特(te)(te)的(de)另一项(xiang)专利技(ji)术——正(zheng)反(fan)傅(fu)里(li)叶(ye)结合光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong)。单(dan)(dan)一的(de)傅(fu)里(li)叶(ye)光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong)和单(dan)(dan)一的(de)反(fan)傅(fu)里(li)叶(ye)光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong)都有(you)不足(zu),百特(te)(te)在国内外率先研制成(cheng)功了正(zheng)反(fan)傅(fu)里(li)叶(ye)结合光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong),实现了两者的(de)优势互补并降低(di)成(cheng)本。它的(de)前向和侧向的(de)散(san)射光(guang)(guang)(guang)是(shi)由反(fan)傅(fu)里(li)叶(ye)光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong)产(chan)生(sheng)、接(jie)(jie)收(shou)和处(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de),后向散(san)射光(guang)(guang)(guang)信号是(shi)由傅(fu)里(li)叶(ye)光(guang)(guang)(guang)学(xue)系(xi)(xi)(xi)统(tong)产(chan)生(sheng)、接(jie)(jie)收(shou)和处(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de),用(yong)单(dan)(dan)光(guang)(guang)(guang)束和单(dan)(dan)镜头(tou)实现了散(san)射光(guang)(guang)(guang)的(de)全角度接(jie)(jie)收(shou),实现了对(dui)纳米、微(wei)米甚至毫米级样品(pin)的(de)准确(que)粒度测试。
Bettersize 2600及正(zheng)反傅(fu)里叶(ye)结合(he)光学系统原理图
总结
丹(dan)东百(bai)(bai)特(te)1995年(nian)成立(li),至今(jin)已有28年(nian)历(li)史(shi),一路走(zou)来百(bai)(bai)特(te)以(yi)技(ji)术创(chuang)新为(wei)核心,拥有89项专(zhuan)利(li),其中(zhong)23项发明专(zhuan)利(li);25项软件制(zhi)作(zuo)权;8项企(qi)业标准(zhun)(zhun);参(can)与制(zhi)定8项国(guo)(guo)家标准(zhun)(zhun);125项粒(li)度测试专(zhuan)有技(ji)术;337项工作(zuo)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)规(gui)范;3项注(zhu)册商标(中(zhong)国(guo)(guo)、欧盟、美(mei)国(guo)(guo))。在(zai)进(jin)(jin)(jin)口仪(yi)器(qi)普(pu)遍占(zhan)据高(gao)端市场(chang)的(de)(de)今(jin)天,在(zai)激光粒(li)度检测领域(yu),丹(dan)东百(bai)(bai)特(te)等国(guo)(guo)内(nei)企(qi)业却凭(ping)借(jie)先(xian)(xian)(xian)进(jin)(jin)(jin)技(ji)术、高(gao)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)标准(zhun)(zhun)向(xiang)世(shi)界证明了国(guo)(guo)产仪(yi)器(qi)毫不逊色,并已跻(ji)身(shen)于世(shi)界前列(lie)。未来,丹(dan)东百(bai)(bai)特(te)仍(reng)将不断专(zhuan)注(zhu)粒(li)度分析产品(pin)(pin)的(de)(de)设计、开发和(he)生产,从(cong)细节保证每一台仪(yi)器(qi)的(de)(de)高(gao)品(pin)(pin)质(zhi)(zhi)。打造精品(pin)(pin)仪(yi)器(qi),争创(chuang)国(guo)(guo)际品(pin)(pin)牌。作(zuo)为(wei)国(guo)(guo)内(nei)规(gui)模较大的(de)(de)陶瓷装备材料(liao)展(zhan)(zhan)览会之一,CAC先(xian)(xian)(xian)进(jin)(jin)(jin)陶瓷展(zhan)(zhan)也希望(wang)见证更多先(xian)(xian)(xian)进(jin)(jin)(jin)陶瓷相关(guan)的(de)(de)优秀企(qi)业在(zai)国(guo)(guo)际领域(yu)上崛起。
粉体圈 整理
本文(wen)为粉体圈原(yuan)创作品,未经(jing)许可,不得(de)转载,也不得(de)歪曲、篡改或复制本文(wen)内容,否(fou)则本公(gong)司将依法追究法律责任。