氮化硅(Si3N4)具有高(gao)强度、高(gao)韧性、耐(nai)热冲击性、耐(nai)磨(mo)损和耐(nai)腐蚀(shi)等(deng)性能,是一种(zhong)应(ying)用广泛(fan)的高(gao)性能结构材(cai)料,除此之外,Si3N4陶瓷还具有良好的抗氧(yang)化性、热(re)膨胀系数与(yu)SiC等半导体材料接近、电绝缘性好、介电常数低、无毒等性能,被认为是一种很有潜力的高速电路和大功率器件散热和封装材料。
Si3N4陶瓷的理(li)论热导(dao)率(lv)虽(sui)然很高(单(dan)晶(jing)理(li)论热导(dao)率(lv)高达320 W/m·K),但采用常规方法制备的Si3N4陶瓷基板热导率测(ce)试值却较低,实际(ji)生(sheng)产一般在100W/m·K以内,影响了氮化硅陶瓷基板的推广应用进程。
那(nei)么都是哪些(xie)因素(su)影响了氮化硅陶瓷基板的热导率呢?
研(yan)究表明,这跟Si3N4陶瓷烧结后的微观结构密切相关,其(qi)影响因素主(zhu)要有致密(mi)化程度、氧含量、晶间相(xiang)组成(cheng)和含量等。
Si3N4烧(shao)结体的典型微观结构
由于氮(dan)化硅的主要传热(re)机制是(shi)晶(jing)格振动,通过声(sheng)子来(lai)传导(dao)热(re)量。晶(jing)格振动并非是(shi)线性(xing)的,晶(jing)格间有(you)着一定的耦(ou)合作用,声(sheng)子间会(hui)发生碰撞,使声(sheng)子的热(re)量传递受到一定的阻(zu)碍(ai)。另外(wai),Si3N4晶体中的各种缺陷(xian)、杂质以及晶粒界面都会(hui)引起(qi)声(sheng)子(zi)的散射,也一定程(cheng)度降(jiang)低了(le)声(sheng)子(zi)传导效(xiao)率(lv),从而降(jiang)低热导率(lv)。
其中(zhong),在诸多晶(jing)格(ge)缺陷中(zhong),晶(jing)格(ge)氧是影响氮化(hua)硅陶瓷热导(dao)率的主要缺陷之一(yi)。氧原子在烧结(jie)的过程中(zhong)会发生固溶反应(ying),生成(cheng)硅空位(wei),并且原子取(qu)代会使晶(jing)体产生一(yi)定的畸变(bian),这些都会引(yin)起声子的散射,从而降低Si3N4晶(jing)体(ti)的(de)热导(dao)率(lv)。因此通过降(jiang)低(di)晶(jing)格氧含量(liang)来制得高热导(dao)率(lv)的(de)氮化硅显得尤为关键(jian)。
而影响最(zui)终Si3N4烧(shao)结体微观结构的重要因(yin)素,除了原料和制备工艺,还有烧(shao)结助剂。Si3N4属于共(gong)价(jia)化(hua)合物,有着很小的(de)(de)自扩散(san)系(xi)数,在烧结(jie)过程中(zhong)依靠(kao)自身(shen)扩散(san)很难形成致密(mi)化(hua)的(de)(de)晶(jing)体(ti)结(jie)构,因此添加合适的(de)(de)烧结(jie)助剂和(he)优化(hua)烧结(jie)助剂配(pei)比能(neng)得到高热导率的(de)(de)氮化(hua)硅陶瓷。
通过添加合适的烧结(jie)助(zhu)剂获得(de)致密的氮化(hua)硅陶瓷结(jie)构
在制备Si3N4陶瓷(ci)时,MgO、Al2O3和(he)Y2O3等(deng)是常(chang)用的烧结助(zhu)剂,但这些氧(yang)化物(wu)助(zhu)剂的引入(ru)会提升材料中的氧(yang)含量,不(bu)利(li)于Si3N4陶(tao)瓷热(re)导率的提高(gao)。为(wei)了(le)提高(gao)Si3N4陶瓷(ci)的热导率,许多(duo)国内外学(xue)者在开发非氧化物新(xin)体系烧结(jie)助剂投入(ru)了大量的研(yan)究。
近些年采用MgSiN2作(zuo)为烧结助剂逐渐引起(qi)研(yan)究者(zhe)的关注(zhu)。
MgSiN2的晶体结构与AlN类似,是一种热学性能优异的高热导材料,在全致密情况下,其理论热导率达到75 W/m·K,其高导热性,不仅可以用作高热导陶瓷基板材料和理想的封装材料,同时其可以作为烧结助剂制备高热导氮化硅陶瓷。MgSiN2作为(wei)烧结(jie)助剂(ji)时,能够净化Si3N4晶(jing)粒(li),降低氮化硅(gui)(gui)晶(jing)格氧含量,增强晶(jing)粒(li)生长,从而大幅提(ti)高氮化硅(gui)(gui)陶瓷的热导率(lv),是当前公认助剂体系中必备(bei)成分之(zhi)一。
MgSiN2结构示意(yi)图
(与AlN的区别是在Al3+的位(wei)置上(shang)分别替代为Mg2+和Si4+原子)
下(xia)图展示了(le)日本(ben)研究(jiu)人员以MgSiN2作(zuo)为烧结助剂时(shi),获得了低晶格氧含量、高(gao)热导率氮化硅陶瓷的实验结果,表明了MgSiN2对提(ti)高热导率(lv)氮化硅陶瓷热导率(lv)的积极(ji)作用。
以MgSiN2作为烧(shao)结助剂制备低晶格氧(yang)含(han)量、高热(re)导率(lv)氮化硅陶瓷(ci)
尽管MgSiN2有诸多优(you)(you)异性质及现实(shi)应(ying)(ying)用,但国内(nei)目(mu)前尚未形(xing)(xing)成该产(chan)品的稳定(ding)供应(ying)(ying),其应(ying)(ying)用优(you)(you)势无法释放,这(zhei)也(ye)部分(fen)制约了国内(nei)高热导氮化(hua)硅(gui)陶瓷量产(chan)进(jin)程。造成上述症结的根(gen)本原因在于,目(mu)前国内(nei)尚未形(xing)(xing)成MgSiN2的(de)高品质(zhi)、批量化(hua)、低(di)成本(ben)制(zhi)备技术(shu)。
MgSiN2作为烧结助剂能更好(hao)地发挥(hui)降低氮化硅(gui)晶格(ge)氧含量的作用,因此,制备高(gao)纯(chun)度、性能稳(wen)定的 MgSiN2成为(wei)应用(yong)的关键。
针对这一难题,齐鲁中科光(guang)物院的研究(jiu)人(ren)员(yuan)通过上百次尝(chang)试及(ji)与客户(hu)互动,成功(gong)开发(fa)了高品质的MgSiN2粉(fen)体(ti)的批量制备工艺,粉(fen)体(ti)纯度达到99%、氧含量和其他杂质含量低,在此基础上,已完成中试及规模化生产验证,实现了MgSiN2粉体(ti)的高品(pin)质、批量化、低成本制备,有望推进国内高热(re)导氮化硅陶(tao)瓷基板产(chan)业化的飞(fei)速(su)发展。
齐鲁中科光物院制(zhi)备(bei)的高(gao)纯MgSiN2粉体(ti)
样(yang)品(pin)测试参(can)数如下表(biao):
样品(pin)名(ming)称:氮(dan)化硅镁粉(fen)体 |
|
检测项目 |
测(ce)试结果(guo) |
MgSiN2含量(%) |
99% |
O含量(%) |
1.5% |
Fe含量(ppm) |
30 |
Al含量(ppm) |
50 |
Ca含量(ppm) |
50 |
除高热导氮化硅专用MgSiN2烧(shao)结助剂外,齐鲁(lu)中科光物院(yuan)已在中试(shi)规模实(shi)现了(le)自制高热导专用(yong)Si3N4粉的小(xiao)批量生产,利用自产高热导(dao)专用Si3N4粉(fen)及自产MgSiN2烧结助(zhu)剂,已(yi)在实验室实现热导率120W/m·K陶瓷(ci)制备,目前,研发人员正在(zai)集中攻关(guan)高热导专用(yong)Si3N4粉的稳定批量生(sheng)产。
氮化硅陶(tao)瓷(ci)基(ji)板电子封装领域的(de)应用范围越(yue)来(lai)越(yue)广,然而相对于(yu)早已有(you)成熟产(chan)(chan)品的(de)国外,我国的(de)氮化硅陶(tao)瓷(ci)基(ji)板的(de)发(fa)展仍处于(yu)起步阶段,在(zai)高(gao)性能(neng)粉体及高(gao)导(dao)热基(ji)板的(de)制备(bei)生产(chan)(chan)上仍有(you)一定(ding)的(de)差距。深入了解材料的(de)作(zuo)用机理,从原材料入手,从(cong)根(gen)源(yuan)上“对症下药”,才能让我国的陶瓷基板产业更上一个台阶。高品(pin)质原料(liao)粉体的(de)稳定供(gong)应,无疑是给(ji)诸多陷入瓶颈的陶瓷基板厂商(shang)注入一针“强心剂”,期待它给我国氮化硅陶瓷基板产业发展带来的助推作用。
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